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在現(xiàn)代精密制造中,材料厚度的微小偏差可能導(dǎo)致產(chǎn)品性能的巨大差異。特別是在半導(dǎo)體、光學(xué)薄膜等領(lǐng)域,即使是微米級(jí)的誤差也會(huì)帶來嚴(yán)重后果。
日本富士工機(jī)(Fujiwork)開發(fā)的HKT-MASTER 0.01AA高精度超薄膜測(cè)厚儀,專為滿足這些嚴(yán)苛測(cè)量需求而設(shè)計(jì),為制造業(yè)提供了未有的測(cè)量精度和可靠性。
HKT-MASTER 0.01AA采用接觸式測(cè)量方式,配備R30碳化物球形測(cè)量元件,這種材料具有高的硬度和耐磨性,能夠保證長(zhǎng)期使用的穩(wěn)定性。
測(cè)量壓力恒定維持在0.14N,避免了因壓力變化導(dǎo)致的測(cè)量誤差。
儀器的測(cè)量分辨率達(dá)到0.01μm(10納米),測(cè)量范圍覆蓋0-500μm,能夠滿足絕大多數(shù)超薄膜材料的測(cè)量需求。
與同類產(chǎn)品相比,如HKT-Lite0.1型號(hào)(分辨率為0.1μm),HKT-MASTER 0.01AA的精度提高了一個(gè)數(shù)量級(jí),為更高精度的應(yīng)用場(chǎng)景提供了可能。
這款測(cè)厚儀的設(shè)計(jì)專門針對(duì)需要高精度的應(yīng)用場(chǎng)景,主要集中在四個(gè)關(guān)鍵領(lǐng)域。
半導(dǎo)體行業(yè):用于測(cè)量晶圓、光刻膠等超薄膜材料。這些材料的厚度均勻性直接影響芯片的性能和良率。
光學(xué)薄膜:適用于鏡頭、濾光片等光學(xué)元件的薄膜厚度測(cè)量。光學(xué)薄膜的厚度需要精確控制以保證光學(xué)性能。
電子行業(yè):用于顯示屏、觸摸屏等薄膜材料的厚度檢測(cè)。這些顯示技術(shù)的多層薄膜結(jié)構(gòu)對(duì)厚度有高要求。
材料研究:支持新材料研發(fā)中的超薄膜厚度測(cè)量,為科研創(chuàng)新提供精準(zhǔn)數(shù)據(jù)支持。
HKT-MASTER 0.01AA在多個(gè)方面展現(xiàn)出顯著優(yōu)勢(shì),使其成為超薄膜測(cè)量領(lǐng)域的佼者。
高精度測(cè)量:0.01μm的分辨率能夠檢測(cè)極細(xì)微的厚度變化,確保測(cè)量結(jié)果的精確性。
穩(wěn)定性:通過保持測(cè)量頭向下恒定和恒定測(cè)量壓力設(shè)計(jì),消除了人為操作帶來的誤差,保證測(cè)量結(jié)果的一致性和可靠性。
優(yōu)異耐用性:R30碳化物測(cè)量元件具有高硬度和耐磨性,適合長(zhǎng)時(shí)間使用,降低了維護(hù)成本和停機(jī)時(shí)間。
操作舒適性:設(shè)計(jì)符合人體工程學(xué),操作簡(jiǎn)單,適合長(zhǎng)時(shí)間使用,減少操作員疲勞。
為了確保測(cè)量精度和儀器壽命,用戶需要注意以下幾個(gè)方面。
定期校準(zhǔn):定期校準(zhǔn)設(shè)備,確保測(cè)量精度不會(huì)隨時(shí)間漂移。
環(huán)境控制:避免在振動(dòng)或溫度波動(dòng)較大的環(huán)境中使用,這些因素會(huì)影響測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
樣品準(zhǔn)備:確保樣品表面清潔、平整,避免雜質(zhì)影響測(cè)量結(jié)果。
測(cè)量頭維護(hù):定期檢查測(cè)量頭的磨損情況,必要時(shí)更換,以保持測(cè)量精度。
為了讓您更全面地了解HKT-MASTER 0.01AA測(cè)厚儀,以下是其主要技術(shù)參數(shù):
參數(shù)類型 | 詳細(xì)規(guī)格 |
---|---|
測(cè)量分辨率 | 0.01μm |
測(cè)量范圍 | 0-500μm |
測(cè)量元件 | R30碳化物球形表面 |
測(cè)量壓力 | 0.14N |
適用材料 | 超薄膜、金屬、塑料、玻璃等 |
測(cè)量方式 | 接觸式測(cè)量 |
顯示方式 | 數(shù)字顯示 |
數(shù)據(jù)輸出 | 支持?jǐn)?shù)據(jù)導(dǎo)出(可選) |
與傳統(tǒng)測(cè)厚儀相比,HKT-MASTER 0.01AA采用了多項(xiàng)創(chuàng)新設(shè)計(jì)。
它消除了人為操作誤差,通過保持測(cè)量頭向下恒定,確保測(cè)量結(jié)果的一致性。其恒定的測(cè)量壓力(0.14N)避免了因壓力變化導(dǎo)致的測(cè)量誤差。
高硬度耐磨的碳化物測(cè)量元件確保了長(zhǎng)期使用的穩(wěn)定性,這是普通測(cè)厚儀難以匹敵的。
此外,其人性化設(shè)計(jì)使操作更加舒適,減少了操作員的疲勞感,特別適合長(zhǎng)時(shí)間、高頻率的測(cè)量工作。
HKT-MASTER 0.01AA超薄膜測(cè)厚儀的出現(xiàn),對(duì)多個(gè)行業(yè)產(chǎn)生了積極影響。
它提供了可靠的質(zhì)量控制手段,幫助企業(yè)提高產(chǎn)品一致性和良率,為新產(chǎn)品研發(fā)提供了精準(zhǔn)測(cè)量支持,加速創(chuàng)新進(jìn)程。
這款儀器還能降低生產(chǎn)成本,通過減少測(cè)量誤差帶來的廢品損失,并增強(qiáng)行業(yè)競(jìng)爭(zhēng)力,通過提升產(chǎn)品質(zhì)量增強(qiáng)企業(yè)市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。
隨著半導(dǎo)體技術(shù)向更小制程發(fā)展,光學(xué)器件對(duì)薄膜均勻性要求不斷提高,HKT-MASTER 0.01AA這樣的高精度測(cè)量工具將成為不可少的質(zhì)量守門員。
它不僅代表了測(cè)量技術(shù)的進(jìn)步,更預(yù)示著精密制造領(lǐng)域一個(gè)新時(shí)代的來臨——在這個(gè)時(shí)代里,微米級(jí)的精度將成為常態(tài),而非例外。